Testlösung beschleunigt Testdurchsatz um das Zehnfache

National Instruments (Nasdaq: NATI) stellt auf dem Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2011“ eine vollständige PXI-basierte Lösung für den Validierungs- und Produktionstest von RF-Leistungsverstärkern vor. Die PXI-Testlösung veranschaulicht das Engagement von NI, den Bedarf von Ingenieuren an schnellen, effizienten und präzisen Mess- und Testlösungen zu decken. Diese Lösung wird auf dem PXI-Markt zu einer Zeit präsentiert, in der er, laut Frost & Sullivan, einem weltweit führenden Marktforschungsunternehmen, bis 2017 die 1-Milliarde-Dollar-Marke überschreiten wird. NI unterstützt diesen Weg mit fortwährenden Entwicklungen im Bereich der modularen PXI-Messgeräte.

„Der PXI-Markt wächst und gewinnt gegenüber traditionellen Stand-alone-Messgeräten an Boden. National Instruments ist unbestritten führend bei PXI-basierten Mess- und Testgeräten“, erklärte Jessy Cavazos, Industry Manager for Measurement and Instrumentation bei Frost & Sullivan. „Dies ist im Hinblick auf die Breite und Tiefe seines PXI-Produktportfolios keineswegs überraschend.“

Die NI-PXI-Lösung für den Test von Leistungsverstärkern umfasst eine Vielzahl an leistungsstarken Mixed-Signal-Messgeräten, um die anspruchsvollen Anforderungen an schnelle und präzise Leistungsverstärker in Validierungs- und Produktionsumgebungen zu erfüllen. In der Demonstration vor Ort werden die neuesten NI-PXI-Messgeräte vorgestellt, darunter der Vektorsignalanalysator NI PXIe-5665 bis 14 GHz, der Digitalsignalgenerator/-analysator NI PXIe-6556 mit PPMU (per Pin Parametric Measurement Unit), der Batteriesimulator NI PXIe-4154 und der Digitizer NI PXIe-5186 mit 12,5 GS/s und 5 GHz. Mit diesen PXI-basierten modularen Messgeräten können Ingenieure an Leistungsverstärkern eine große Vielzahl von Tests und Messungen durchführen, darunter Zeit-Leistungs-Vergleich-, EVM- (Error Vector Magnitude), ACLR- (Adjacent Channel Leakage Ratio), Leckstrom-, Oberwellen- sowie Leerlauf- und Kurzschlusstests.

Die Lösung reiht sich in ein umfangreiches Angebot an NI-PXI-Werkzeugen ein, zu dem gegenwärtig mehr als 450 unterschiedliche PXI-Module zählen, mit denen buchstäblich jede technische Herausforderung bewältigt werden kann. Sie baut auf dem Erfolg und den technischen Vorzügen der PXI-Plattform auf, beispielsweise leistungsstarke Timing- und Synchronisationsfunktionen, die Ingenieuren den Austausch von Triggern und Takten zwischen Messgeräten ermöglichen. Diese Funktionen führen in Verbindung mit dem Hochgeschwindigkeits-PXI-Express-Bus der Lösung zu Testgeschwindigkeiten, die bis zu zehnmal schneller sind als bei traditionellen Messgeräten. National Instruments bietet zudem Software für eine Vielzahl an RF-Standards an, darunter LTE, GSM/EDGE, WCDMA, WLAN, WiMAX, ZigBee und Bluetooth.

Außerdem schloss National Instruments im Juli 2011 die Übernahme von AWR ab, einem führenden Anbieter von EDA-Software (Electronic Design Automation) wie AWR Microwave Office für das Design von HF-Komponenten und -Systemen. Die Übernahme stärkt die Plattformen NI PXI und AWR Microwave Office als ergänzende Lösungen für das gesamte RF-Entwicklungsspektrum, mit denen die Produktivität vom Design bis zum Produktionstest erhöht wird, beispielsweise von Leistungsverstärkern. AWR führt seine neuesten Designwerkzeuge auf dem VIP-Kongress vor.

Besucher des Anwenderkongresses VIP 2011 (ni.com/german/vip) konnten die Demonstration der NI-PXI-Lösung für den Test von Leistungsverstärkern live mitverfolgen.

Weitere Informationen: http://zone.ni.com/…

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