NI-PXI-Vektornetzwerkanalysator reduziert Prüfkosten bei Herstellern von Halbleitern und mobilen Geräten

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Pressemeldung der Firma National Instruments Germany GmbH

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– Der Vektornetzwerkanalysator (VNA) von NI erreicht durch schnelle automatisierte Messungen, eine funktionsreiche Messgerätearchitektur und vereinfachte Prüfsystementwicklung eine erhebliche Reduzierung der Prüfkosten.

– Das neue NI-PXI-Express-Modul kombiniert hochentwickelte Messfunktionen eines VNA mit Messungen analoger und digitaler Hochgeschwindigkeitssignale, Präzisions-DC-Messungen und mehr in PXI-basierten Prüfsystemen.

National Instruments (Nasdaq: NATI) gibt die Markteinführung des VNA NI PXIe-5632 bekannt. Dieser Vektornetzwerkanalysator unterstützt Anwender dabei, immer komplexere RF-Testanforderungen zu einem Bruchteil der Kosten, der Größe und des Zeitaufwands klassischer Stand-alone-Lösungen zu erfüllen. Der neue PXI-Express-Vektornetzwerkanalysator beruht auf einer innovativen Architektur mit zwei Signalquellen, die einen Frequenzbereich von 300 kHz bis 8,5 GHz abdecken. Die Signalquellen sind unabhängig voneinander abgestimmt und über Zugangsleitungen erreichbar. Diese Architektur ermöglicht so den Einsatz in den unterschiedlichsten Messanwendungen.

Zitat

„NI setzt seine umfangreichen Investitionen in die RF- und Mikrowellenmesstechnik fort und weitet so den Einsatz von PXI in High-End-Anwendungen aus“, erläutert Jin Bains, Vice President of RF Research and Development bei National Instruments. „Der weitreichende Funktionsumfang des Vektornetzwerkanalysators NI PXIe-5632 sorgt für eine deutliche Reduzierung der Kosten von Netzwerkmessungen, besonders bei automatisierten Testanwendungen für hohe Stückzahlen, die äußerst genaue Messungen, eine hohe Messgeschwindigkeit und geringe Systemabmessungen erfordern.“

Überblick über die Funktionen

– PXI-Express-Vektornetzwerkanalysator (3 PXI-Steckplätze) mit zwei Anschlüssen (Ports) und einer Frequenzabdeckung von 300 kHz bis 8,5 GHz

– Großer Leistungsbereich von -30d Bm bis +15 dBm, der in Schritten von je 0,01 dB für Messungen von Kompression und S-Parametern aktiver Geräte eingestellt werden kann

– Architektur mit zwei Quellen inklusive Zugangsleitungen für gepulste S-Parametermessungen und erweitertem Leistungsbereich

– Frequenz-Offset-Funktion, die unabhängig abgestimmte Quellen zur Messung an Frequenzumsetzern und zur Bestimmung der Hot-S-Parameter nutzt

– Intuitive Programmierschnittstelle für NI LabVIEW, ANSI C und .NET zur vereinfachten Programmierung und schnellen Prüfsystementwicklung bei gleichzeitiger Beibehaltung der HF-Messqualität



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